Re: [問題] 薄膜干涉
※ 引述《Airseal (冷牙)》之銘言：
: 大家好，這裡有個問題想請問各位。
: 這邊先定義"薄膜"的厚度為"某光源下會產生干涉現象"的厚度
: 一般而言，都認為厚度大於光源同調長度，即不會產生干涉，
: 故厚膜反射一般都是膜層兩界面的反射光強相加。
: 問題來了
: 一般（單層）薄膜干涉現象都用 I＝I1+I2+（I1*I2）^0.5*COS(2π/λ*2nd)
: 在厚度增加至接近同調長度(未達同調長度)時，
: 干涉現象是否會受到影響？（應該會吧？）
: 在其影響下，公式應做何修正？
: 不知道問題清不清楚，若需要補充的話請推文告知。
: 麻煩各位了！
請問，理論上膜層接近或大於同調長度後，就不容易看到干涉效應了
根據公式計算同調長度=λ^2／（ｎ△λ）
鹵素光源頻寬約600nm 計算起來同調長度約只有數百nm
然而量測2~3um的膜層(n~1.6)反射光譜，仍看得見明顯的干涉現象
(量測儀器光源即為鹵素燈)
想請問為何有此現象，其次膜層需至多厚反射頻譜才不會有干涉現象
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
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