討論串[問題] design compiler後counter(計數器)總是 …
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我這邊似乎對scan testing有些誤會。. 在作stuck-at-fault scan testing會分幾個步驟：. 1. scan in. 2. apply primary input. 3. measure primary output. 4. capture. 5. scan out.
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[恕刪]. 您說的case是 Stuck at fault :. 每條 scan 的 clk 是外灌的，當然不同chain就會有不同scan clk. 而同一條 chain在 Shift In /Capture/Shift Out時，. 都是用同一個外灌的 scan clk. 基本上，這個case不
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^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^. 最近剛好去上CIC開的DFT Compiler & TetraMAX課程，. 發現我之前對DFT Compiler有說明書有些誤解。. 像上面這一句應該是說"有兩種方法解決這intern
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Design Compiler也能消除相位差，也就是用STA。. 其實STA就是"static timing analysis"簡寫，. 所以我前面說DFF除頻器能用"靜態"調timing，. 原來就是這個專有名詞，之前都沒想到。. 然而上面這個"相位差"問題，不是雜訊的問題，它用STA就能解決了。
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[恕刪]. 剛才看了一下"DFT Compiler Scan User Guide"，其實就如Acme大所說的. DFT Compiler對DFF除頻器真的有些限制。. 例如[1] p.p. 1-47：. If uncontrollable clock signals are generated o
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