Re: [問題] 使用medici模擬NMOS的問題

看板Electronics作者 (╮(-_-)╭)時間18年前 (2007/05/20 15:23), 編輯推噓0(000)
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※ 引述《koal (嚕啦啦)》之銘言: : 各位版友好, : 我在使用medici模擬NMOS的時候, : 在不同的Vd下,計算出來的Vth也不同, : 請問有沒有人知道原因呢? : 通道長度:1μm : 接面厚度(junction):0.34μm : Na:3E16 : 氧化層厚度:0.025μm : 問題:Vd=0.5 Vth=0.4 : Vd=1.5 Vth=1 : 謝謝大家 很開心找到個也是用TCAD進行模擬的同伴 如果有問題 不妨可以交流交流^^ 廢話不多說 剛剛某版友已提出最主要的關鍵解答DIBL效應 不才在下為了多賺點P幣 就詳細的說明一下 如有不明白或不正確的地方 煩請各版友提點 <(_ _)> MOSFET元件的閘極電壓小於臨限電壓時,基板在源極與汲極之間會形成一位能障, 以限制電子由源極流向汲極。在長通道元件中,汲極接面處的空乏層寬度並不會 影響位能障高度(barrir height);然而,當短通道MOSFET的汲極電壓增加時,因 為空乏層與位能障高度過度接近,使得源極和通道之間的能障下降。 在源極與通道間的表面能障會有個下降量, 這就是所謂的汲極引發能障衰退(Drain Induced Barrier Lowering DIBL)。 如此一來,則會有過量的載子電荷注入通道中,引起次臨限電流的增加, 而造成在短通道元件中,臨限電壓會隨著汲極電壓的升高而下降。 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 140.125.31.73
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