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作者 ece8324 在 PTT [ Electronics ] 看板的留言(推文), 共11則

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[ Electronics ]12 留言, 推噓總分: +3

作者: gecer - 發表於 2016/08/13 20:10(9年前)

2^F推ece8324: probe to pad alignment 指的應是待被測試元件上的 test08/14 16:38

3^F→ece8324: pad 與測試配件(例如probe card,中譯為探針卡)需做好定位08/14 16:38

4^F→ece8324: (alignment)的動作，才能做正確有效的測試08/14 16:38

5^F→ece8324: 上述有效正確的測試，除了要做定位(alignment)外，該測試08/14 16:44

6^F→ece8324: 配件亦需許加上適當的針壓(O/D: overdrive)在該待測試元08/14 16:44

7^F→ece8324: 件上08/14 16:44

8^F→ece8324: 定位動作的做法是，找尋該待測試元件上的特殊唯一的圖案(08/14 16:48

9^F→ece8324: pattern)，去對每個待測試元件定位08/14 16:48

10^F→ece8324: 如有錯誤，請指正08/14 16:49

11^F推ece8324: 你想像一下打針用的針筒，當針筒戳進某一個物件裡，戳進08/15 13:10

12^F→ece8324: 去的深度把它類比成針壓，這樣解釋，ok嗎08/15 13:10

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