[問題] 請問幾個半導體測試的專有名詞

看板Electronics作者 (gecer)時間9年前 (2016/08/13 20:10), 9年前編輯推噓3(3推 0噓 9→)
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小弟看到半導體測試機會有參數名稱 "probe to pad alignment" "Overdrive" 請教這兩個名詞是什麼意思? -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 114.32.180.150 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1471090220.A.A10.html
推
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OD針壓
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推
08/14 16:38, , 2F
probe to pad alignment 指的應是待被測試元件上的 test
08/14 16:38, 2F
→
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pad 與測試配件(例如probe card,中譯為探針卡)需做好定位
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→
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(alignment)的動作，才能做正確有效的測試
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→
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上述有效正確的測試，除了要做定位(alignment)外，該測試
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配件亦需許加上適當的針壓(O/D: overdrive)在該待測試元
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件上
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定位動作的做法是，找尋該待測試元件上的特殊唯一的圖案(
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pattern)，去對每個待測試元件定位
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如有錯誤，請指正
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感謝大大清楚解說 不過小弟想知道為什麼OD單位也是"距離" ex 50um ※ 編輯: gecer (114.32.180.150), 08/15/2016 08:20:09
推
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你想像一下打針用的針筒，當針筒戳進某一個物件裡，戳進
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→
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去的深度把它類比成針壓，這樣解釋，ok嗎
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