Re: [問題] 有關演算法的問題
※ 引述《璉璉 <devil@tainan.com.tw.x>, 看板: Programming》之銘言：
: 我了解了。
: 必要條件是 good > bad ，不能等於
: 所以至少會剩下 TT 或 T ，再以此 T 為基準做所有的測試。
對了 :)
: 但已測試的結果無法有效利用，測試次數會比較多，無法達到測試次數最小化。
因為我不是本科出身, 不太懂分析 complexity.
但我自己看這個方法好像測試次數蠻少的
(之前看到很多都是不斷交替測試)
這個方法, 假設 N 個晶片, 壞的 m 個,
最多只是 m*(N-m+1) + (N-m) + m*2 次的比對.
而一般來說比對的次數還要少很多很多
(要踫巧所有的壞晶片都放到最後)
有人可以教教我, 我這個方法的 complexity 怎麼
算嗎? (早陣子買了一本相關的書自學可是沒
有太多時間看 :( )
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 202.155.236.82
推
04/16 19:08, , 1F
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