討論串[問題] 有關演算法的問題
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※ 引述《璉璉 <devil@tainan.com.tw.x>, 看板: Programming》之銘言：對了 :). 因為我不是本科出身, 不太懂分析 complexity.. 但我自己看這個方法好像測試次數蠻少的. (之前看到很多都是不斷交替測試). 這個方法, 假設 N 個晶片, 壞的 m 個
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我了解了。. 必要條件是 good > bad ，不能等於. 所以至少會剩下 TT 或 T ，再以此 T 為基準做所有的測試。. 但已測試的結果無法有效利用，測試次數會比較多，無法達到測試次數最小化。. ==> 本文由 "Alien <adrianshum.bbs@ptt.cc>". > 於 new
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※ 引述《璉璉 <devil@tainan.com.tw.x>, 看板: Programming》之銘言：[43]. 看來你誤會了我用的方法 :). 我用一個實際例子演示一次吧. 假設有 1- 10 共 10 塊晶片. 我先拿 1 出來, 然後 與 2 互相檢查. 假設 return TT, 就繼續
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假設所有傳回值大部分都是壞的呢？. 起始解傳回兩個 F ，你要踢哪個？兩個 F 表示至少一個壞的。. 你原文抽出一個跟一對混淆在一起，搞不清楚你是寫哪種。. (註: TF FT 僅為反序，只論 TF). 1)傳回 T T 可能是全好或全壞。. 2)傳回 T F 可以保證 F 一定是壞的，可以踢掉，但
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※ 引述《devil@tainan.com.tw.x (璉璉)》之銘言：. > 這個能用的前提是你第一個拿出來的要是好的。. > 結果不可信表示可能回傳是好的或壞的，並非是壞的就會傳回好的。. > 所以會造成你分的兩堆根本就不可信，因為每一堆都是混雜了好的或壞的。. 看不是很懂這一段.. @"@.
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