Re: [問題] 有關演算法的問題
剛剛想了一下，可以加上每次的群組 1(TT) 都應該編號抽出來測。
假設共有 64 組 (128 個) ，編號 1 ~ 64
兩組互測，用奇數、偶數互測，例如 1,2 ，沒發現 F 的話，表示 1,2 組要就全 T ，不然就全 F 。測 32 組。
跳號，1, 3、5, 7... 組互測，表示 1,2,3,4 組綁定。測16組。
跳四號，1,5,9,13... 互測，表示 1,2,3,4,5,6,7,8組綁定。測8組。
跳8號，1,9,17,25... 互測，表示 1~16組綁定。測4組。
跳16號，1,17,33,49 互測，表示 1~32組綁定，測 2組。
跳32號，1,33 互測，表示 1~64組綁定，測 1組。
若運氣太好，上述結果全為 T ，只能說全好或全壞。
若肯定 T 個數大於 F ，只少測最後 1 組而已。
其它 2T, 4F 可以組合測出 TT ，進入 TT 測試。
==> 本文由 "璉璉 <devil@tainan.com.tw>"
> 於 news:406437C40C234A8EBB155B793480140C%40c2q6600 發表
> good 用 T (True) 表示，bad 用 F (False) 表示，先 A 後 B
> 傳回 可能情形
> 1 TT TT -- -- FF (未定，但結果成對)
> 2 TF -- TF -- FF (B 壞的, A 未定)
> 3 FT -- -- FT FF (A 壞的, B 未定)
> 4 FF -- TF FT FF (未定，但一半以上是壞的)
> 2, 3 可從結果合併，假設群組 2 為 T ，群組 3 為 F
> 得到結果是：
> 1 TT (未定，但結果成對)
> 2 T (未定)
> 3 F (保證是壞的)
> 4 FF (未定，但一半以上是壞的)
> 題目到此，未說明晶片是否可編號排除重覆測試，或是 1, 4 的群組如何運用。
> 若是實際問題，則不會在測試完成前編號，而且 1 2 會混在一起，主因是量大沒人力細分。
> 則問題通常是幾輪迴測試後，可保證出廠的良品可靠度可達 95% 以上 (或其他要求值)
> 接下來的測試若可細分，1 就要求不同組測試，若交插測試出現一個 F ，則兩組都是 FF 。
> 但是因為傳回的 T 不可靠，所以即使交插測試仍不能確保 T 恆為真，剩下來能利用的變量只剩 T 的個數比 F 多，來達到交叉組數減少的用途。
> 若不能細分，則 1, 2 合併為 2
> 測試其它的組合：
> TF (24)
> 傳回 TF FF 表示 4F 為 Bad、2T 未知 ，傳回 FT 表示 2T 為 Bad、4F 未知，傳回 TT 仍未知，可依 1, 2, 3 來分群。
> 測試
> TT (22), FF(44) 傳回之結果仍為 1, 2, 3, 4 的分群。
> T 的個數比 F 多只表示 TF 數量足夠，會多剩餘 TT 測，無須測 FF ，若截和前面要求不同組測試，亦可減少測試量。
> 歸納出來的結論：
> 一般狀況看起來只有 TF 的情況可以肯定 B為 Bad。
> TT的交叉測試若出現 TF FT FF 表示兩組均為 Bad 。
> 但沒有辦法肯定恆為 T ，肯定恆為 T 只有靠 T 的個數比 F 多來達成。
> 所以在工廠只能做風險可靠度分析，比如說台積電就有可靠度工程師，用台積電有的設備來達成國外要求不同設備的產品良率或是使用期限的達成。
> ==> 本文由 "路人系草包 <smallworld.bbs@ptt.cc>"
> > 於 news:4ZK48W%247eM%40ptt.cc 發表
> > 記得這題是出自摳門的演算法導論
> > 以前讀的時候碰到這題也是想不出
> > 剛剛稍有斬獲 請大家看看這樣行不行
> > 已知 好的大於一半
> > 我的做法是
> > 1. 任取一晶片插入A 其他一一與在A上的晶片測試 如果不是兩者都說GOOD
> > 就把B換掉 拿新的測 總之就是測到都出GOOD為止
> > 2. 出現兩者皆說GOOD 就把兩片拿起來放一起 反覆1 最後晶片會兩兩成對
> > 此時成對的對不管好壞 屬性都相同
> > 3. 一對中 兩者擇一 與其他對擇一的晶片 進行1.步驟 把答案相同者 再放一起
> > 反覆到最後剩兩堆 由已知 多的那堆是好的 少的那堆是壞的
> > 共做O(logN)次
> > ※ 引述《dancs96 (山嵐)》之銘言：
> > : 有N個檢查晶片不確定好壞
> > : 但知道一定有一半以上是好的
> > : 在測試方式是 一個測試平台可以放兩個晶片 A B
> > : A會檢查B 而B會檢查A
> > : 如果晶片是好的
> > : 當它在測試平台上檢查的時候就會說 另一個是"good" 或是"bad"
> > : 而這個結果是完全可信的
> > : 但是如果是壞的 則結果是不可信的
> > : 也就是說 測試結果可用下表表示
> > : A B 可能結果
> > : _________________________________________________
> > : B good A good 兩個都是好的或是兩個都是壞的
> > : B good A bad 至少一個是壞的
> > : B bad A good 至少一個是壞的
> > : B bad A bad 至少一個是壞的
> > : 現在有個問題
> > : 找出一個方法可以測試出好的晶片 並且說明測試的次數
> >
>
--
風禹科技驗證有限公司 ASP.NET Web News Reader 0.2.7 UTF-8 Beta
網站地圖 http://tlcheng.twbbs.org/wwwmap.htm
流域防洪/區域水資源/徐昇網/玫瑰圖/語音通訊 文章與程式
Basic/Fortran/Windows API/.Net/輔助說明檔 原始碼、文章與討論
微軟程式設計、系統管理使用新技術論壇討論區，網友回覆後即時簡訊、電子郵件通知：
MSDN: http://forums.microsoft.com/msdn-cht/default.aspx?siteid=14
TechNet: http://forums.microsoft.com/technet-cht/default.aspx?siteid=23
--
ASPNET News Reader http://tlcheng.twbbs.org/News/Reader.aspx
RSS 2.0 http://tlcheng.twbbs.org/News/rss2.aspx?Action=List&Newsgroup=tw.bbs.comp.language
討論串 (同標題文章)
完整討論串 (本文為第 7 之 17 篇)：
問題
0
3