Re: [問題] Design Compiler write_scan_def
※ 引述《zxvc (執著)》之銘言：
[恕刪]
: : 2.直接執行CHIP level synthesis
: : 這方法較簡單 寫出來的scandef直接使用不需修改
: 其實我知道chip-level syn可以避開這個問題。
: 但我之所以這次不用chip-level syn的原因是：
: 我用的製程(UMC 90nm)的IO pads是bidirectional pads。
: 每個pad不止兩個pins，還有一些control pins。
: 在scan chain insertion時，Design Compiler(DC)會依據
: 你用set_dft_signal所指定的port去串。DC會從port跨過pad
: 接到core。問題是因為bidirectional pads有太多pins，
: DC無法判定跨過pads後要往哪個pins接到core，所以有可能發生接錯的情形。
: 像我chip-level syn的結果，我的scan data in ports就沒接到我的core。
Ya! 我解決了。
set_dft_signal有個hookup_pin的選項讓你可以手動選擇pad連到core的pin。
例如：
set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port SI
-hookup_pin ipad_SI/O
SI是chip的port，ipad_SI的O pin接到core。
: : 請你參考
: 謝謝你的建議。
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◆ From: 140.115.71.32
推
04/09 10:05, , 1F
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