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討論串[問題] 關於plus的晶片事件
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Re: [問題] 關於plus的晶片事件
推噓76(76推 0噓 130→)留言206則，0人參與, 最新作者ckk007時間10年前 (2015/10/12 08:54), 10年前編輯資訊
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本人是一位無法退貨的三星哀phone次等plus魯蛇. 秉持自己的***魯蛇程度自己測. 所以我也測了一下我的手機有多次等. 花了30元買Geekbench3來測. 測試方法類似這個對岸6s測試. http://tieba.baidu.com/p/4091196302?see_lz=1. 我是開飛航
(還有661個字)
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[問題] 關於plus的晶片事件已刪文
推噓7(7推 0噓 7→)留言14則，0人參與, 最新作者GUANGLEI (磊磊)時間10年前 (2015/10/11 18:28), 10年前編輯資訊
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同為6s的手機，晶片製程不同，已確定耗電與發熱有所差距了。. 那同為6s plus的兩支手機，若晶片製程不同，影響與差距是否比小支的（6s)小？. 因看到類似測驗結果與報導，想確認是否大支的較不易受***和GG不同有所太大影響差別？. 謝謝. --. ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來
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