Re: [問題] ADS能求出無法直接量的待測物的S參數嗎
推
10/04 22:50,
10/04 22:50
→
10/04 22:50,
10/04 22:50
→
10/04 22:50,
10/04 22:50
推
10/06 02:01,
10/06 02:01
推
10/06 11:55,
10/06 11:55
也許小弟描述的不是很清楚
不過這幾天查資料發現Pozar 第四章(第三版)
有講到TRL的原理
就是先用TRL把量測治具的S參數算出來
再加以修正
校正時是要得知治具的S參數以便修正
而我現在想做的就是把"治具"<==DUT的S參數找到
不知道ADS可否辦到呢??
※ 引述《Eressea (Mas i estel?)》之銘言：
: 小弟要量特殊形狀的2port被動波導元件
: 因為形狀的關係只能把兩個相同的元件對接起來量測
: 若我有兩個相同原件的through line reflection S2P檔
: 能否用ADS計算出元件本身的S參數呢?
: 這個靈感來自上網搜尋相關資料發現下面的連結
: 可是看不懂他是如何用ADS求出單一SMA接頭的S參數
: (而且他的圖也怪怪的，SMA的return loss會那麼大嗎?)
: http://www.eeplace.com/dm/5351/tw/Probe_deembedding_AN.pdf
: 所以想到用TRL的方式
: 因為印象中TRL可以經過數學計算算出DUT自己的S參數
: 但細節和程式方面實在不太行
: 所以想用ADS幫忙
: 感謝大家
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 1.169.179.59
※ 編輯: Eressea 來自: 1.169.179.59 (10/09 21:47)
討論串 (同標題文章)
