[請益] 半導体 薄膜量測儀器

看板Tech_Job作者 (ccj888)時間1年前 (2024/01/07 14:07), 1年前編輯推噓15(17232)
留言51則, 23人參與, 1年前最新討論串1/1
請問各位做半導体的先進 薄膜製程中,量測厚度的儀器 一般測厚儀 ,是用X-ray 和α step是嗎? 金屬(Ni/Cu...)和非金屬(SiO2、光阻)用的量測儀器有不同嗎? 國內有那些推薦的廠商? 謝謝幫忙告之! -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 111.250.83.172 (臺灣) ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Tech_Job/M.1704607660.A.3CA.html

01/07 14:09, 1年前 , 1F
KLA…
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※ 編輯: asd9 (111.250.83.172 臺灣), 01/07/2024 14:30:12

01/07 14:41, 1年前 , 2F
作業自己做
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01/07 14:46, 1年前 , 3F
J.A.Woollam
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能力好的,用文具店15公分就太夠了。
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我都用厚薄規 一層一層去比出膜厚
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橢偏儀廠商…
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我都拿游標卡尺量
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橢圓偏振儀 自己功課自己做
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金屬:階差量測, 光阻:膜厚量測儀器
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01/07 15:44, 1年前 , 10F
XRR問題就是速度慢,雖然最準確。一般都是橢圓儀加
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上機器學習,沒機器學習基本上你也只是拿到一堆光
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譜不知道要幹嘛而已
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Semilab
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XRR可以量金屬,解決可見光穿透深度的問題。橢圓儀
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可以測厚,也可以量Profile不一定要用machine lear
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ning,RCWA計算在很多地方還是很好使用的。XRF XPS
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METAPULSE 各有適合的應用,甚至電性厚度的量測都
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有,看人會不會用。
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01/07 17:29, 1年前 , 19F
能夠照著儀器的特性去解決使用者的需求,才是最重
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01/07 17:29, 1年前 , 20F
要的
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老經驗的製程調機都用舔的
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01/07 18:27, 1年前 , 22F
我都叫廠商幫量
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01/07 19:35, 1年前 , 23F
橢偏是高度技術活,除非有人已經幫您弄好recipe了!
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01/07 19:37, 1年前 , 24F
不計成本TEM和FIB也可以用啊 XD
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01/07 19:38, 1年前 , 25F
有些用AFM也可以
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01/07 20:08, 1年前 , 26F
橢偏儀了解原理不就簡單到不行嗎-.-a
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01/07 20:09, 1年前 , 27F
不就簡單的條紋 了解需要一個小時嗎?
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01/07 20:13, 1年前 , 28F
膜厚妥偏原理還好,但是根據tune dispersion和實際
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01/07 20:13, 1年前 , 29F
應用也是需要考慮,包含Test pad設計。模擬軟體如
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果主管願意,廠商也會教一些基本功,可以靠著大量
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實戰獲得經驗,1D-3D都是。AFM局限性在於表面,速
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度,耗材,但是粗糙度和底層有光學需要decouple的
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01/07 20:13, 1年前 , 33F
應用則是強項。現在有in-line dFIB但是容易有defec
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01/07 20:13, 1年前 , 34F
t需要考驗test pad設計。
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01/07 20:55, 1年前 , 35F
我都用目測的
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01/07 22:57, 1年前 , 36F
桌上J.A.Woollam,in line SEMILAB
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01/08 06:33, 1年前 , 37F
blanket wafer 和立體結構的確不一樣啦~ 平面的確
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01/08 06:33, 1年前 , 38F
看顏色就行
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01/08 09:50, 1年前 , 39F
魯道夫
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01/08 11:32, 1年前 , 40F
橢偏有recipe就真的掃掃完事,全新材料有時不見得這
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01/08 11:33, 1年前 , 41F
麽容易!
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01/08 11:37, 1年前 , 42F
更不用說SOI上有多層膜,不曉得簡單在那裏?
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01/08 11:38, 1年前 , 43F
不過原理加大量實戰是沒錯的!
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01/08 12:17, 1年前 , 44F
菲希爾
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01/08 12:18, 1年前 , 45F
比較麻煩的是標準片的控管 很容易破又要常常跟原廠
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01/08 12:18, 1年前 , 46F
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01/08 12:42, 1年前 , 47F
dispersion 不容忽視阿
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01/09 08:02, 1年前 , 48F
半導本是什麼
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01/09 14:06, 1年前 , 49F

01/09 14:07, 1年前 , 50F
曲博之前有跟ITRI的專訪有介紹
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01/09 14:21, 1年前 , 51F
作業自己寫,什麼是半導本?
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文章代碼(AID): #1bcZ-iFA (Tech_Job)