[問題]關於MEMS製程變異度資料
最近在做一些MEMS sensor性能模擬與分析,需要下列資料:
(1) silicon (crystal & poly) 線寬以及深度的uncertainty
(2) silicon (crystal & poly) 的材料特性uncertainty,包含
Young's modulus, Poisson ratio, density等
不知道版友們提否提供相關資訊(數據、paper或database website)
感激嘍~
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 218.32.7.26
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