Re: [新聞] 紐約時報:Samsung 工程師無法讓 Galaxy消失
最可怕的是這種自燃機率低到微乎其微
就算拿一千台作可靠度測試也不ㄧ定複製出來
叫工程師怎麼對症下藥
加上現在晶片製造商又推出Quick charge
硬是用1C~2C條件電流硬充電池縮短充電時間
久而久之電池ㄧ定比傳統充電方法更快老化
而這種新充電技術根本就沒有大量驗證過電池
穩定性安全是否萬無ㄧ失
晶片廠只會跟手機製造商說新技術有多好有多快
但永遠不會講到缺點
奉勸各位如果你手機有這個快充功能記得把他
給關閉恢復到傳統充電
為了你的手機壽命也為了生命財產好
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