Re: [問題] ESD SCR在DC以及TLP的量測疑問

看板Electronics作者shela (雪特拉)時間13年前 (2010/10/07 22:26)推噓1(1推 0噓 2→)

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http://www.ics.ee.nctu.edu.tw/~mdker/journal.html No.35: “Investigation on the validity of holding voltage in high-voltage devices measured by transmission-line-pulsing (TLP),” W.-Y. Chen, Ming-Dou Ker, and Y.-J. Huang ※ 引述《gthisashi (hisa)》之銘言： : \請問以一般PNPN的SCR結構而言,為什麼DC與TLP測量出的Vh會不同, : 我想要暸解的是電路動作的機制,希望能詳細一些,謝謝前輩們賜教. -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 76.19.21.162

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gthisashi

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