Re: [問題] 請問一下IC量測方法
※ 引述《wwwok (AIC)》之銘言：
: 最近下線的晶片回來了
: 要準備開始痛苦的量測地獄了
: 想請問一下板上的各位大大
: 在量測方面 不論是儀器也好或是探針等等的
: 有沒有什麼經驗可以分享一下的呢
: 小弟這邊可以稍微提供一些較粗淺的經驗
: 例如使用示波器時 可以善用average的功能
: 使出來的波形更為漂亮
: 又使用POWER SUPPLY時 可以在輸出與地之間並聯一顆電容
: 可以濾掉一些雜訊(不過就我看來感覺沒啥用處?有誤的地方請高手補充一下)
: 另外還有就是 示波器的探棒要是量測方便且許可的話
: 可以直接把頭上的蓋子給拔掉 用裡面的尖針直接接觸待測物
: 也可以減少許多雜訊 以上有些由安捷倫的工程師所提供
: 並不保證有用 就請大家討論看看囉^^
示波器的部分我也來補充一下
蔽天線效應
如果量測雜訊很大時 可以使用這個方法
如wwwok板友所說 先將探針前面的套子拔下
會看到一根尖針 旁邊則有一片金屬環
那就是探棒的地
可以拿一條銅線先繞在地上面幾圈 留隻引腳然後拿下來
對於探針的部分也照做
這樣會有兩個像長了尾巴的大小彈簧
再來就是把小彈簧焊到你要量測的點上
大彈簧焊到離量測點最近的地上
要量測時將探棒依序插入大彈簧 小彈簧
可以減少量測的雜訊產生
原理是減少迴路的面積
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