討論串[面試] 請問從事Defect team的分析手法
共 4 篇文章
首頁
上一頁
1
下一頁
尾頁

推噓0(0推 0噓 0→)留言0則,0人參與, 最新作者ghost008時間12年前 (2013/09/15 09:36), 編輯資訊
0
0
0
內容預覽:

推噓2(3推 1噓 9→)留言13則,0人參與, 最新作者sc1 (sc1)時間12年前 (2013/09/13 10:03), 編輯資訊
0
0
0
內容預覽:
defect team爽啊 只要會highlight製程&設備 就OK. KLA跟SEM進來在學就好. KLA: Scan整個wafer的表面. SEM: Review定位點. FIB做TEM切片. 證據在哪裡 案子就辦到哪 大是大非. 叫設備製程出來負責 認罪 加班到死. 顧人怨的事情 久了就換d

推噓0(0推 0噓 1→)留言1則,0人參與, 最新作者cueist (把愛藏在心裡)時間12年前 (2013/09/13 07:18), 編輯資訊
0
0
0
內容預覽:
建議你可以先撈chart看correlation,可以by tool, by time, by lot, by process 等等的方式去找。如果有defect formation model 或是以前的經驗,就可以排出check 的 priority。視情形再搭配EFA的分析。. --. Sen

推噓8(8推 0噓 4→)留言12則,0人參與, 最新作者kuoQ (QQ)時間12年前 (2013/09/12 20:30), 編輯資訊
0
0
0
內容預覽:
目前我在八吋廠擔任defect team工程師. 因為有時會難以釐清defect來源. 想跟是從事同單位性質的工程師討論一下分析手法. 或許藉由討論可以讓彼此學到不同方法. 若不方便公開的話可以來信討論. 謝謝!!. --. 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc). ◆ From: 124.8.
首頁
上一頁
1
下一頁
尾頁