CMP檢測AFM 雷光干涉 跟?

看板Tech_Job作者 (轉角遇到困難)時間1年前 (2022/12/21 10:18), 1年前編輯推噓15(18322)
留言43則, 32人參與, 1年前最新討論串1/1
如題,這次是製程面試的工程師來了,他問我說CMP後的晶片我們還是要表面觀察,我回 答AFM 、白光干涉,工程師點了頭說 好 力學跟光學 但你漏了一項,我又無言了,版上 有人知道嗎?(不是TEM 、SEM也不是SIMS…) -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 1.200.147.244 (臺灣) ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Tech_Job/M.1671589128.A.11C.html ※ 編輯: mytaiwan (1.200.147.244 臺灣), 12/21/2022 10:20:55 ※ 編輯: mytaiwan (1.200.147.244 臺灣), 12/21/2022 10:21:12 ※ 編輯: mytaiwan (1.200.147.244 臺灣), 12/21/2022 10:21:37

12/21 10:24, 1年前 , 1F
肉眼看啊
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XPS或OM?
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XRD
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XPS
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自己的功課自己做
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這裡不是GG版耶
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XRF
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12/21 11:24, 1年前 , 9F
不是GG版那是什麼版
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核磁共振?下探針?
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12/21 11:44, 1年前 , 11F
最後還是EE plz check,有差嗎?
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12/21 12:07, 1年前 , 12F
隨便啦 你inline給我run到target就對了啦
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誰知道
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12/21 12:37, 1年前 , 14F
PA OOS, Pls EE chk tool ASAP
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12/21 12:46, 1年前 , 15F
Dear sirs, pls check GGWP 3Q3Q thanks you much
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12/21 13:21, 1年前 , 16F
樓上笑死
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12/21 13:26, 1年前 , 17F
自己去google
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12/21 14:54, 1年前 , 18F
表面觀察甚麼? 沒講清楚是要我們觀落陰喔
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12/21 14:57, 1年前 , 19F
分類都被你干涉掉了嗎?
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defect scan?
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12/21 15:29, 1年前 , 21F
不管是什麼 都不知道這咖在問什麼的
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12/21 18:32, 1年前 , 22F
第一次聽到把AFM稱為力學檢驗的XD
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12/21 18:35, 1年前 , 23F
從你的資訊來猜測,對方說 力學光學都有了,那剩下
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可能是電學和化學了
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如果他是負責中段的CMP那就是EBI scan
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化學的話ICP-MS XPS都有聽過
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12/21 18:38, 1年前 , 27F
政治學的話,就是前層Loop留下的loading太大,沒辦
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法磨平
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12/21 19:20, 1年前 , 29F
不同段別要看的東西不一樣吧
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12/21 19:46, 1年前 , 30F
用手摸
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12/21 22:46, 1年前 , 31F
OCD
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12/22 02:13, 1年前 , 32F
問這麼多有屁用?不如問 你家多缺錢? 可以接受狗
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12/22 02:13, 1年前 , 33F
幹的程度如何?
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12/22 06:57, 1年前 , 34F
看他態度,態度不好也不要去
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12/22 08:43, 1年前 , 35F
政治學推
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12/22 10:18, 1年前 , 36F
厚度跟uv看layer下有沒有東西?
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12/22 13:32, 1年前 , 37F
PE/EE check data ok normal release
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12/22 20:54, 1年前 , 38F
玄學吧 看Wafer Map上的風水
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12/22 23:31, 1年前 , 39F
dark field和OCD
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12/23 21:30, 1年前 , 40F
窩電流
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12/23 21:32, 1年前 , 41F
要馬是eddy current 要馬是表面化學性質檢測(XPS之
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12/23 21:32, 1年前 , 42F
類的)
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12/24 00:57, 1年前 , 43F
wafer map的風水哈哈哈哈
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文章代碼(AID): #1Zecq84S (Tech_Job)