[請益] Wafer CP probe card測試問題(已解決，謝

看板Tech_Job作者 (蝦叔叔)時間7年前 (2018/06/05 14:52), 7年前編輯推噓8(8推 0噓 6→)
留言14則, 9人參與, 7年前最新討論串1/1
(代妹妹PO) 不知道這個問題能不能在這個版PO, 就是本人的妹妹不知道為什麼要交Probe Card的作業(太忙了，反正就是幫他PO)，問題如 下： Wafer CP probe card測試問題 1. 若是高溫測試是否有 normal的life time? 2. 高溫測試是否有需要注意的地方？例如清針次數、預熱時間、O/D值 3. 高溫測試是否會有沾黏wafer 的問題？ 4. 高溫測試會影響Wafer的yield嗎？ 5. 高溫測試會影響到open short嗎？ 不知道各位年薪百萬能不能幫助她了解問題，或是說有什麼推薦的網路資源能幫他解答， 謝謝～ -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 42.72.82.88 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Tech_Job/M.1528181572.A.848.html ※ 編輯: wayne30691 (42.72.82.88), 06/05/2018 14:53:28
推
06/05 15:27, 7年前 , 1F
WAT
06/05 15:27, 1F
推
06/05 15:50, 7年前 , 2F
好奇怎會有這樣的作業要寫！
06/05 15:50, 2F
推
06/05 16:16, 7年前 , 3F
這真的是作業嗎？還是面試考題？
06/05 16:16, 3F
→
06/05 16:50, 7年前 , 4F
不負責回答：1.較短 2.請看SOP 3.否 4.有 5.有，不過這
06/05 16:50, 4F
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06/05 16:50, 7年前 , 5F
樣面試唬爛的過嗎？
06/05 16:50, 5F
推
06/05 17:09, 7年前 , 6F
很特別的作業
06/05 17:09, 6F
推
06/05 18:42, 7年前 , 7F
1.有2.都要注意3.沒遇過4.會5.會
06/05 18:42, 7F
推
06/05 19:42, 7年前 , 8F
1. Probe card life time 與vendor / tip type為主
06/05 19:42, 8F
推
06/05 19:44, 7年前 , 9F
2. 清針次數, 預熱, OD follow run card
06/05 19:44, 9F
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06/05 19:45, 7年前 , 10F
3. Probe card 沾黏不是wafer 沾黏
06/05 19:45, 10F
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06/05 19:46, 7年前 , 11F
4. 看產品 test program
06/05 19:46, 11F
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06/05 19:47, 7年前 , 12F
5. 正常高溫open / short 應該比低溫少
06/05 19:47, 12F
推
06/05 22:24, 7年前 , 13F
實際上高溫也蠻容易open的 探針熱膨脹出框
06/05 22:24, 13F
※ 編輯: wayne30691 (114.137.232.185), 06/06/2018 23:03:47
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06/06 23:04, 7年前 , 14F
感謝大家的回覆！
06/06 23:04, 14F
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