[新聞] IC測試~
IC測試是IC製造流程中重要的一環，一般可分成兩個階段，其中在切割、封裝前的測試為
IC晶圓測試(Wafer Test)，其目的在針對晶片作電性功能上的測試，使IC在進入封裝前能
先行過濾出電性功能不良的晶片，以降低IC 成品的不良率，減少製造成本的耗費。而封
裝成形後的測試為IC成品測試(Final Test)，其目的在確認IC 成品的功能、速度、容忍
度、電力消耗、熱力發散等屬性是否正常，以確保IC 出貨前的品質。對IC 製造廠商而言
，測試實為一不可缺少之關鍵製程。專業的IC測試服務廠，主要係以精密之高科技機器設
備，利用測試程式模擬IC各種可能之使用環境及方法，例如在高溫、低溫、電壓不穩及電
壓偏高或偏低等惡劣環境與一般正常使用狀況下，將受測IC置於此模擬環境中，測試其工
作狀態是否在規格範圍內，以確保IC 之品質。
全文網址:
http://www.moneydj.com/kmdj/wiki/wikiviewer.aspx?keyid=806db4e4-18c8-4bba-9f8a-ff249a4ea511#ixzz2Q1t0p19x
MoneyDJ 財經知識庫
我一直覺得這塊很重要!!!!!!!
各位前輩覺得呢?
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 220.132.250.91
推
04/10 12:24, , 1F
04/10 12:24, 1F
推
04/10 12:37, , 2F
04/10 12:37, 2F
推
04/10 12:51, , 3F
04/10 12:51, 3F
→
04/10 13:18, , 4F
04/10 13:18, 4F
→
04/10 13:18, , 5F
04/10 13:18, 5F
→
04/10 13:48, , 6F
04/10 13:48, 6F
→
04/10 13:52, , 7F
04/10 13:52, 7F
→
04/10 14:27, , 8F
04/10 14:27, 8F
→
04/10 14:40, , 9F
04/10 14:40, 9F
→
04/10 14:40, , 10F
04/10 14:40, 10F
→
04/10 14:48, , 11F
04/10 14:48, 11F
→
04/10 14:49, , 12F
04/10 14:49, 12F
→
04/10 14:50, , 13F
04/10 14:50, 13F
→
04/10 15:05, , 14F
04/10 15:05, 14F
→
04/10 15:08, , 15F
04/10 15:08, 15F
→
04/10 15:09, , 16F
04/10 15:09, 16F
→
04/10 15:27, , 17F
04/10 15:27, 17F
推
04/10 22:24, , 18F
04/10 22:24, 18F
→
04/10 22:25, , 19F
04/10 22:25, 19F