[討論] SEM或PLS該如何控制干擾因子
我想標準程序(或書上這樣寫)是分層分析後比較
但我最近想到一個新的方法,可以做這件事情,但上網google了一下似乎沒有人這樣做,因此
對此種方法的可行性產生疑惑
假設現在有m1,m2,...,m10共10個測量指標(假設都連續)
欲控制的變項有c1,c2,c3共三個 (連續/類別皆可)
先做10個線性回歸,使用c1,c2,c3預測m1,m2,...,m10之後,會得到殘差r1,r2,...,r10
然後再將r1,r2,...,r10放入模式內(無論是SEM或PLS),那是不是等同於這整個模式控制了
c1,c2,c3了呢?
P.S. 淨相關也是這樣做的
但由於本人才疏學淺且非統計系畢業,如果上面的想法犯了很基本的錯誤,也請指正
如果這些方法其實早就有了更簡單的控制干擾因子的方法,也肯請大大們推文給資料的網址
,小弟我一定會認真拜讀,就不勞大大們解說了
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