[問題] 電子束轟擊造成積碳原因

看板Physics作者 (小教練)時間9年前 (2015/06/29 00:17), 9年前編輯推噓4(4010)
留言14則, 3人參與, 最新討論串1/1
大家好 一般我們使用SEM通常在一定的真空下 但經過電子束長時間的轟擊會發現表面累積一些物質 查了一下網路大多說是積碳 但這些碳從何而來 ? 在多少真空環境下容易生成 ? 因為google不到相關文獻 希望有相關領域高手幫忙解答一下 感謝 -- Sent from my Android -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 36.237.33.145 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Physics/M.1435508234.A.10D.html

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那是樣品燒焦吧
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目前所有類型的真空幫浦對氫氣、部分碳氫化合物、一
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氧化碳、二氧化碳等的抽氣效果並不理想,超高真空用RG
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A檢測殘餘氣體這幾種荷質比會特別明顯。而電子束可以
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把分子鍵結打斷,因此會造成碳的沈積。
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那使用ion pump是有效的手段嗎 ?
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※ 編輯: homelan (36.237.35.146), 06/29/2015 07:10:33

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我的經驗是使用ion pump後積碳速速似乎變慢
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當然會有效阿..一般只用turbo即使加上bake chmaber的
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過程..能到1*10-9torr的壓力就很了不起了..後續就是要
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靠ion pump才能進-10的真空..一般SEM sample chamber
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頂多到-7的真空而已,含碳化合物還是一大堆
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不過SEM裡ion pump是接在column的部分,效果也是有限
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大致上了解 我會用RGA去測試一下
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處理樣品時若有有機溶劑要記得等完全揮發再放進去
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文章代碼(AID): #1La1uA4D (Physics)