[請益] 請中山大學材料所同學幫忙
我於本月使用貴所之
FEI E.O Tecnai F20 G2 Field-Emission TEM
有拍攝diffraction pattern
由於camera length不同
所以回來後無法分析
懇求貴所同學能將校正檔e-mail給我
謝謝
Mail:mac2109@gmail.com
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 140.124.55.196
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10/05 18:17, , 1F
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