（中央社記者張榮祥台南6日電）成功大學今天表示，致力於積體電路測試技術研究的成
大電機工程學系教授李昆忠，已獲選為電機電子工程師學會會士（IEEE Fellow）。
成大指出，李昆忠發明的廣播式掃描測試技術，已成為高複雜度積體電路最常採用的測試
資料壓縮方法，使用此方法測試或衍生技術的積體電路晶片超過數十億顆。
李昆忠已發表210餘篇期刊及會議論文，這在積體電路測試領域非常不容易。他的論文多
在高品質的IEEE期刊及國際頂尖會議發表，在今年全球最高水準的國際測試會議，他就發
表3篇論文。
目前，李昆忠是IEEE亞洲測試會議指導委員會主席、IEEE測試技術理事會亞洲及太平洋區
主席、IEEE國際設計、自動化及測試會議執行委員會委員及IEEE高階測試研討會指導委員
會委員。
電機電子工程師學會（Institute of Electrical and Electronics Engineers，簡稱
IEEE）創立於1963年，是世界最大的專業技術組織之一，擁有170多個國家42萬名會員，
總部設於美國紐約市，在全球150多個國家也有分會。1051206
http://www.cna.com.tw/news/ahel/201612060200-1.aspx
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