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討論串[問題]testing 課本中的一段話
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Re: [問題]testing 課本中的一段話
推噓3(3推 0噓 3→)留言6則，0人參與, 最新作者coldleaf (姊姊餓很久了!)時間18年前 (2007/08/20 11:12), 編輯資訊
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如果你電路的速度瓶頸在I/O上的話, 這時候為了測試, 卻又在I/O port上加入. 額外的scan chain電路, 則電容性負載會增加, dVo/dt=I/C. C增加, 若I不變(因為你的輸出buffer的MOS已經固定, I就固定). 則dVo/dt 變小, 導致maximum achie
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[問題]testing 課本中的一段話
推噓0(0推 0噓 0→)留言0則，0人參與, 最新作者bounty5254 (AM2)時間18年前 (2007/08/20 10:43), 編輯資訊
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It is important to avoid using high-speed I/O ports as scan inputs or outputs,as the additional loading could result in a degradation of the maximum s
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