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討論串[心得] Early和CLM效應
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Re: [心得] Early和CLM效應
推噓1(1推 0噓 0→)留言1則，0人參與, 最新作者NeoCPT (post blue)時間19年前 (2006/12/02 13:37), 編輯資訊
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任何兩端電壓太高都可能會壞掉 (breakdown). 不過這和通道長度調變沒有直接關係. 輸出電壓無限大更是不可能. 但如果你的意思是輸出阻抗的話. 那的確是受通道長度調變的影響而降低的. 但電晶體並不會因此而"壞掉"喔. --. ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc). ◆ From: 71
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[心得] Early和CLM效應
推噓3(3推 0噓 0→)留言3則，0人參與, 最新作者boboptt (boboptt)時間19年前 (2006/12/01 00:54), 編輯資訊
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請問FET的通道長度調變效應. 和BJT的Early效應. 是否有意味著電晶體輸出不能無限大呢(要不會電晶體會壞掉). 感覺是很愚笨的問題 不過還是希望有人來幫我確認^^ 謝謝. --. ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc). ◆ From: 61.59.236.100.
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