[問題] 請問ic上的電晶體有容錯機制嗎

看板Electronics作者 (chmod)時間1年前 (2023/04/13 19:03), 編輯推噓9(908)
留言17則, 12人參與, 1年前最新討論串1/1
請問ic上的電晶體有容錯機制嗎? ic上的電晶體幾百億個 全部成功 一個都作沒失敗 覺得很誇張 一個失敗了就報廢一顆晶片 好像也不太可能 所以到底是怎樣呢 -- 問了幾個在台積 聯發科的朋友都說不知道 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 118.232.0.118 (臺灣) ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1681383785.A.1A5.html

04/13 19:22, 1年前 , 1F
螢幕壞一點也是能看 大概是這概念
04/13 19:22, 1F

04/13 19:33, 1年前 , 2F
不要用數位的觀念看類比系統
04/13 19:33, 2F

04/13 21:15, 1年前 , 3F
看你是怎樣錯啊 function還是manufacturing
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04/13 21:15, 1年前 , 4F
有drc lvs formal卡關 還會錯是誰的問題
04/13 21:15, 4F

04/13 21:23, 1年前 , 5F
post sim沒有考慮process variation或是design margin?
04/13 21:23, 5F

04/13 22:07, 1年前 , 6F
不會壞幾顆就整個晶片不能用
04/13 22:07, 6F

04/14 02:01, 1年前 , 7F
有些有double via之類的容錯
04/14 02:01, 7F

04/14 07:41, 1年前 , 8F
有測試刷掉不能用的ic,就是良率問題
04/14 07:41, 8F

04/15 13:52, 1年前 , 9F
你的錯是什麼意思?degradation ?
04/15 13:52, 9F

04/15 17:50, 1年前 , 10F
看成本吧,你要double via跑出來面積就比較大
04/15 17:50, 10F

04/15 17:51, 1年前 , 11F
如果你是車規要更安全也可以放備援系統
04/15 17:51, 11F

04/15 20:13, 1年前 , 12F
你買隨身碟很多同規格容量差一點點,就是這因素
04/15 20:13, 12F

04/16 14:20, 1年前 , 13F
DFT有卡 量率CPFT有卡 那剩下會有問題就自然損耗或人
04/16 14:20, 13F

04/16 14:20, 1年前 , 14F
為而已
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04/17 23:18, 1年前 , 15F
錯指的是電晶體不能正常運作
04/17 23:18, 15F

04/18 02:17, 1年前 , 16F
何謂正常,Beta 值上下偏移嗎,那在 Spec 上範圍寫大點
04/18 02:17, 16F

04/18 02:18, 1年前 , 17F
先射箭再畫靶就好,這麼簡單
04/18 02:18, 17F
文章代碼(AID): #1aD-5f6b (Electronics)