[問題] 關於finfet的熱載子退化已刪文
想請問各位，
為什麼圖片中說在reverse mode時有比較大的hot carrier degradation是因為degradation of interface 比較接近drain有關呢?
又是甚麼原因degradation of interface 會接近drain?
https://imgur.com/gK5Nbxv
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