[問題] 請問各位有關高速訊號量測波形的問題
各位大大好
小弟對於高速訊號量測波形一直有一些疑問存在
我們常常可以看到量測高速差分訊號的波形圖(如PCIe)
例如下面網頁中的眼圖
http://bbs.ednchina.com/BLOG_ARTICLE_3028280.HTM
我一直有個疑問
就是這個波形是用示波器probe量測板子上的那個測點得來的呢?
是一出chip 的TX訊號嗎?
會有這個疑問的原因是
我看到的waveform
幾乎都是以中心點為0V 上下震盪數百mV的波形
在我的理解中
PCIe是走AC coupling
transmitter跟receiver都是會有自己working的DC bias
然後用AC電容隔開 兩邊的bias互不干擾
所以看到的波形應該是要在一個DC bias上 做上下震盪的波形
但是為什麼會看到的都是在0V +/- 幾百mV的波形呢?
這應該不是differential(就是P跟N相減之後)的結果吧?
應該是single-ended 的訊號量測
而且我們的晶片裡面應該不可能有負電壓存在
所以我覺得比較合理的波形圖應該是要看到像下面這個網頁的第二個圖一樣
http://bbs.ednchina.com/BLOG_ARTICLE_3027790.HTM
是在一個VCM的上下震盪的訊號
但是實際上看到的圖卻都不是這樣
還是說這些示波器在量測的時候
已經設成AC mode了?
只會去看AC成分的波形?
這個問題已經困擾我一段時間
也在外面的課堂上問過其他老師
但是一直都沒有一個滿意的答覆
希望有做高速訊號相關設計的大大可以不吝伺教
感激不盡啊!!!
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※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1444311103.A.15B.html
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