[問題] SAR ADC之比較器遇天線效應&拆解MIMCap PDK之疑問
大家好
小魯在設計SAR ADC之比較器時
沒有顧慮到此問題(Antenna Rule)
小魯的MIM CAP相對於比較器的input gate 比例超過限制
小魯上網查了一下
可以用跳線法解決此問題
但是有點不是很理解這方法的使用規則@@?
另外小魯想到的方法是
加大input pair 的sizing
但是pre-sim的ENOB卻因此而下降
想問各位前輩 有更高深的解法嗎@@?
另外有方法在pres-im 就事先預防嗎?
謝謝您耐心的閱讀:)
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 111.248.117.235
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※ 編輯: dinocyj (111.248.117.235), 09/09/2015 23:25:16
推
09/09 23:35, , 1F
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小魯使用的是top plate sampling
cap的上板(M6) 必須接到比較器的input 和 SAH
使用的的製程(U18)最高也是M6
另外小魯想加問
小魯把PDK裡的MIM CAP flatten後
把它由原來的長方形改成 正方形方便layout
也想看能否減少寄生電容
不知道這樣做會不會影響到真實的電路呢?
另外小魯看到M6 連接MMC層是使用VI5
這樣對嗎@@?
第一次拆PDK
而且是最重要的電容....
我覺得有點恐怖QQ
※ 編輯: dinocyj (111.248.117.235), 09/09/2015 23:51:22
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他是長方形的 bottom的M5 有在旁邊上到M6
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不知道為啥畫完圖右邊分開了0.0
因為有多餘的地方
小魯把他拆掉@@
※ 編輯: dinocyj (223.137.202.151), 09/11/2015 02:34:52
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09/11 06:00, , 11F
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