[問題] 量測振動訊號的兩個探針，其差異為何?
假設要量如圖中的晶片的振動訊號: http://i.imgur.com/MudLnuW.jpg
會用一台量測儀器，那台量測儀器會有兩根探針，分別接觸那個晶片的兩個量測點，然後
就量到振動訊號了，
據我所知那台量測機器是透過探針，給予晶片一個瓦數的功率，使晶片振動，然後接收
訊號，
想請問一下，有沒有人量測過類似的東西?
請問兩個探針分別的功用為何?
照理講應該兩個電極要有電位差，晶片才會振動，故兩個探針應該是給予晶片的上下電極
相反的電位差?
如果是的話，但是那台量測儀器只能設定要給晶片多少功率...，沒有電位相關的設定...
請問有人知道那兩個探針的原理嗎?
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 36.229.247.29
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1436005223.A.D04.html
推
07/06 01:50, , 1F
07/06 01:50, 1F
補充:
是這個:
http://saunders-assoc.com/httpdocs/datasheets/250b1/6300352.pdf
※ 編輯: candy88257 (61.231.6.140), 07/08/2015 07:18:03