[問題]有關於比較器量測誤差電壓Vos的問題

看板Electronics作者 (MacKer)時間11年前 (2014/07/19 12:16), 編輯推噓5(505)
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各位電機板的大大好 最近在研究比較器時有遇到一個問題 就是關於如何量測OFFSET電壓的值 以目前我在PAPER的SURVEY上面看到 大部分的論文大都是用蒙地卡羅的分析去收集每次跑出來的OFFSET電壓值 並且在對收集到的數據做標準差的分析得到一個誤差電壓 但是目前所遇到的問題是不知道該如何去知道每一次跑出來的誤差值 應該要怎麼計算出來 舉例來說 因為目前大部分都使用HSIPCE再跑模擬 之後再配合WAVEFORM觀察波型 如果我從MISMATCH MODEL去跑電路的模擬 使用蒙地卡羅的方式下去做15次的分析 我在波形中可以觀察到比較器輸出的波形會產生錯誤的判斷 所以這時候應該是要去補償一個DC的電壓值讓他能夠補回去維持在正常的輸出 在我的觀念中這個補償的電壓應該就是OFFSET VOLTAGE 問題在於說 我在分析看到的是受到影響的電路波型 但是我不清楚應該要如何測量每次跑出來的數值應該要補多少OFFSET VOLTAGE? http://ppt.cc/5PGh 以上面這張圖為例 他是跑了一千次的數據然後再去作分析 可以看到他的Y軸單位是OFFSET電壓 現在我的問題就是我不知道該如何獲得每次跑出來數值的OFFSET電壓 因此之後的數據分析就也會卡關~ 不知道板上的各位有沒有遇過類似的問題或是有甚麼想法 有在想是不是先在兩端INPUT端都給DC值 不過又感覺似乎怪怪的 因為OFFSET電壓是否跟你輸入的INPUT PATTERN也有關係? 再麻煩有經驗的各位能提供一些寶貴的意見! -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 114.36.50.138 ※ 文章網址: http://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1405743363.A.20A.html

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我都input 直接sweep 抓0->1 1->0那時候就當iro
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是 clockless還是 dynamic latched?
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是DYNAMIC COMPARATOR喔!
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請問obov大大可以在多解釋一下嗎?sweep是input端給值嗎?
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如果是 dynamic latch的話不可以跑dc
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對阿就input端
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就算是dynamic comparator也是只有在clock on的時候動作
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所以基本上只要把clock on的case跑出來就可以了
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所以跑DC應該是不會有問題
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這是概念上啦 如果你要optimize的話或許有其他作法
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文章代碼(AID): #1JoV438A (Electronics)