[問題] conductance method
各位先進
我想要利用conductance method來計算interface trap density對energy band分布
從國內的論文搜尋中
多半只利用這個方法計算"單一Dit" 也就是沒有對頻帶作圖
而從書上看來
要由Gp/w-w圖計算到surface potential似乎是個耗大工程
paper中很多國外使用這個方法
但是paper也都不會把量測方法講得很詳細
目前我只量出peak 但是不知道計算式中的band bending要怎麼得到
還有 我的基底不是矽 所以很多經驗公式與圖不能用@@
不知道有沒有人有做過這方面的量測與計算
願意撥空指點
謝謝
--
本來要用hi-lo量 但是QS量不出來
所以只好改用conductance
--
╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╭─╮╳╳╳╳
╳╳◥◥◣◢◤◤╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳★╳╳╳╳▁▅▅▅▁│馬└╮╳╳╳
╳╳◥◥◥◤◤◤╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳╳█╳╳╳╳◢◥◥◥◣╰┐斯└╮╳╳
╳╳◥◥◥◤◤◤ ★██ █ █ ★██ ███ ██★╳╳ ˙ ˙★╳╰┐奇│╳╳
╳╳◥◥╳╳◤◤ ▆▆█ █★╳█▆▆ ★ ╳╳█╳█╳╳ ◥ ︶ ◤ ╳╳╰─╯╳╳
╳╳◥◥╳╳◤◤ █▆★ █╳╳▆▆★ ███ ★╳█╳╳◢█▅█◣By meei0531 ╳
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 140.114.19.208