[學科] SEM相關問題

看板Chemistry作者 (白雲絲)時間15年前 (2009/06/28 00:54), 編輯推噓1(1推 0噓 7→)
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1.掃描電子顯微鏡/X 射線能譜法（SEM/EDS）在鑑識上常用以觀測微細碎粒的形狀 及分析所含的金屬元素。試說明 (a)微細碎粒在螢幕上構成影像的原理； (b)X 射線產生的機制及K 系列（K series）譜線及L 系列（L series）譜線的區別。 並說明所得 X 射線能譜的特性與用途。 2.請比較掃瞄式電子顯微鏡(SEM)及穿透式電子顯微鏡(TEM)的相異處。 這些問題 我有先查過原文書了 但覺得說法有點抽象 SEM是產生二次電子 所成像的。TEM是靠高壓電子源。 但我比較不出SEM和TEM的優劣處 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 123.195.21.186
推
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TEM試片製作比較困難(要薄)
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06/29 02:28, , 2F
另外SEM只能看到表面結構 TEM是根據穿透內部狀況
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因此可分析內部組成與結構 能夠作相分析
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K系列跟L系列能譜差別在能階 一個是掉到K層一個掉到L層
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而K peak和L peak在強度上有很明顯差異(K>>L)
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因此分析時能用K就決不用L 除非重原子K peak能量太高
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超出電子顯微鏡能量範圍
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06/29 08:39, , 8F
thank you
06/29 08:39, 8F
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