[問題] FTIR量測氮化矽薄膜

看板ChemEng作者 (葡萄乾布丁 撲倒幹不停)時間9年前 (2015/03/18 23:01), 編輯推噓1(1推 0噓 2→)
留言3則, 2人參與, 最新討論串1/1
小弟研究需要量測氮化矽薄膜經過處理後的鍵結 因為是用機台鍍膜所以一定要用到基板 而目前使用的是PC板鍍SiNx 不過出來的結果包含一堆雜訊 想請問一下板上的各位有無辦法 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 124.11.174.215 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/ChemEng/M.1426690910.A.210.html
→
03/19 00:44, , 1F
用拉曼試看看
03/19 00:44, 1F
推
03/20 00:50, , 2F
反射太強 用低掠角全反射IR如何? 30
03/20 00:50, 2F
→
03/20 00:50, , 3F
度 80度？
03/20 00:50, 3F
‣ 更多 mungdean 的文章
文章代碼(AID): #1L2PDU8G (ChemEng)