[問題] 想請教BCB 設計wafer的一些問題
小弟程式薄弱,請大家見諒!!
我是用BCB來寫程式,目前想要做一個檢測Wafer上Die,配合光學尺,手動移動到某個
Die要能在程式中模擬顯示目前在哪一行哪一列,小弟目前使用StringGrid物件,
配合ComboBox能讓移動到某個格子時能點下去讓他顯是有瑕疵或刮痕的選項,但
需要有放大縮小功能,但網路查過StringGrid沒有放大縮小功能,有沒有人知道
甚麼方法可行的?給小弟一點意見!!
還有想問要如何建這資料庫?抱歉希望給點意見
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